M.Sh. Levin, A.O. Merzlyakov, Composite combinatorial scheme of test planning (example for microprocessor systems). Proc. IEEE Region 8 Int. Conf. "Sibircon-2008". Novosibirsk, 2008, pp. 291-295.
Перейти к публикации
| Авторы: Левин М.Ш., Мерзляков А.О. |