ВЕРСИЯ ДЛЯ СЛАБОВИДЯЩИХ
Войти
Логин:
Пароль:
Забыли пароль?
научная деятельность
структура институтаобразовательные проектыпериодические изданиясотрудники институтапресс-центрконтакты
русский | english
Лаборатория № 2 >> Основные направления исследований (old) >> Обнаружение дефектов электронных микросх...

Обнаружение дефектов электронных микросхем на изображениях

Данная задача состоит в разработке алгоритмов формирования маски дефектных участков электронных микросхем путем анализа изображений, получаемых микроскопом высокого разрешения (электронным микроскопом). При этом дефектом называется та область изображения, где наблюдается отличие анализируемого (дефектного) изображения от эталонного (бездефектного).

В результаты проведенных исследований был разработан алгоритм, основанный на прямом поиске различий эталонного и дефектного изображений. Очевидно, что при таком подходе алгоритм обнаружения дефектов по паре изображений низкого увеличения может быть разделен на два последовательных, но совершенно независимых этапа. Первый этап – автоматическое совмещение пары изображений и второй – нахождение области дефекта, как области различия уже совмещенных эталонного и дефектного изображений.

НОВОСТИ И ОБЪЯВЛЕНИЯ
Поздравляю вас с Днем России – праздником национального единства, гражданской ответственности и любв...
11 июня пройдут семинары лаборатории № 5 (на Большом...
9 июня в 16:00 состоится семинар, посвященный хабилитационной диссертации Павла Осиненко под названи...
В четверг, 5 июня, в 17:00 в 615 аудитории состоится семинар Сектора 11.1 ИППИ РАН...
Совместный семинар ИПЭЭ РАН и ИППИ РАН по проблемам сенсорной физиологии: 5 июня (четверг), 16:00, а...
3 июня в 18:00 в БЕН РАН состоится лекция по теме "Заключение: открытые вопросы, перспективные напра...
Памяти Евгения Абрамовича Печерского...
В четверг, 29 мая, в 17:00 в 615 аудитории состоится семинар Сектора 11.1 ИППИ...
Все новости   
 

 

© Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Институт проблем передачи информации им. А.А. Харкевича Российской академии наук, 2025
Об институте  |  Контакты  |  Противодействие коррупции