Войти
Логин:
Пароль:
Забыли пароль?
научная деятельность
структура институтаобразовательные проектыпериодические изданиясотрудники институтапресс-центрконтакты
русский | english
Лаборатория № 2 >> Основные направления исследований >> Обнаружение дефектов электронных микросх...

Обнаружение дефектов электронных микросхем на изображениях

Данная задача состоит в разработке алгоритмов формирования маски дефектных участков электронных микросхем путем анализа изображений, получаемых микроскопом высокого разрешения (электронным микроскопом). При этом дефектом называется та область изображения, где наблюдается отличие анализируемого (дефектного) изображения от эталонного (бездефектного).

В результаты проведенных исследований был разработан алгоритм, основанный на прямом поиске различий эталонного и дефектного изображений. Очевидно, что при таком подходе алгоритм обнаружения дефектов по паре изображений низкого увеличения может быть разделен на два последовательных, но совершенно независимых этапа. Первый этап – автоматическое совмещение пары изображений и второй – нахождение области дефекта, как области различия уже совмещенных эталонного и дефектного изображений.

НОВОСТИ И ОБЪЯВЛЕНИЯ
Заведующий Сектором анализа данных в нейронауках ИППИ РАН, сотрудник Сколтеха Михаил Беляев рассказ...
25 апреля, в ИППИ РАН прошел традиционный «математический день». Сотрудники трех лабораторий и сект...
Михаил Гельфанд в интервью агентству РИА Новости объяснил, почему человечество проигрывает в войне с...
24 апреля состоялась конференция сотрудников ИППИ РАН, посвященная выборам Ученого совета ИППИ РАН с...
Семинар по теории кодирования: 25.04.2017 (вторник),19:00, ауд.307 ИППИ. Андрей Ромащенко (ИППИ, LIR...
Представительная делегация ИППИ РАН посетила Казанский (Приволжский) федеральный университет. В ходе...
22 апреля трагически погиб старший научный сотрудник Сектора алгебра и теории чисел №4.1 Алексей...
ИППИ РАН стал одной из площадок, где прошел Научный Субботник (Всероссийская Лабораторная). По итога...
Все новости   
 

 

  © Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Институт проблем передачи информации им. А.А. Харкевича Российской академии наук, 2017
Об институте  |  Контакты  |  Старая версия сайта