Войти
Логин:
Пароль:
Забыли пароль?
научная деятельность
структура институтаобразовательные проектыпериодические изданиясотрудники институтапресс-центрконтакты
русский | english
Лаборатория № 2 >> Основные направления исследований >> Обнаружение дефектов электронных микросх...

Обнаружение дефектов электронных микросхем на изображениях

Данная задача состоит в разработке алгоритмов формирования маски дефектных участков электронных микросхем путем анализа изображений, получаемых микроскопом высокого разрешения (электронным микроскопом). При этом дефектом называется та область изображения, где наблюдается отличие анализируемого (дефектного) изображения от эталонного (бездефектного).

В результаты проведенных исследований был разработан алгоритм, основанный на прямом поиске различий эталонного и дефектного изображений. Очевидно, что при таком подходе алгоритм обнаружения дефектов по паре изображений низкого увеличения может быть разделен на два последовательных, но совершенно независимых этапа. Первый этап – автоматическое совмещение пары изображений и второй – нахождение области дефекта, как области различия уже совмещенных эталонного и дефектного изображений.

НОВОСТИ И ОБЪЯВЛЕНИЯ
17 августа журналистам из более чем 20 изданий и телеканалов представили технопарк "Калибр" и показа...
Семинар Добрушинской математической лаборатории ИППИ РАН, 22 августа, вторник, 16:00, аудитория 307 ...
Заведующая лабораторией обработки сенсорной информации ИППИ РАН Варвара Веденина выступит с докладом...
Директор ИППИ РАН Андрей Соболевский провёл встречу с ведущими специалистами Федерального исследоват...
Семинар Добрушинской математической лаборатории: 15.08.17 (вторник), 16:00, ауд. 307 ИППИ. Леня Петр...
Руководитель сектора научных коммуникаций ИППИ РАН Даниил Кузнецов выступил 29-30 июля на Летней шк...
25 и 26 июля директор ИППИ РАН Андрей Соболевский принял участие в совещании у заместителя премьер-м...
Семинар Добрушинской математической лаборатории: 1.08.2017 (вторник), 16:00, ауд. 307 ИППИ РАН. Ники...
Все новости   
 

 

  © Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Институт проблем передачи информации им. А.А. Харкевича Российской академии наук, 2017
Об институте  |  Контакты  |  Старая версия сайта