Войти
Логин:
Пароль:
Забыли пароль?
научная деятельность
структура институтаобразовательные проектыпериодические изданиясотрудники институтапресс-центрконтакты
русский | english
Лаборатория № 2 >> Основные направления исследований >> Обнаружение дефектов электронных микросх...

Обнаружение дефектов электронных микросхем на изображениях

Данная задача состоит в разработке алгоритмов формирования маски дефектных участков электронных микросхем путем анализа изображений, получаемых микроскопом высокого разрешения (электронным микроскопом). При этом дефектом называется та область изображения, где наблюдается отличие анализируемого (дефектного) изображения от эталонного (бездефектного).

В результаты проведенных исследований был разработан алгоритм, основанный на прямом поиске различий эталонного и дефектного изображений. Очевидно, что при таком подходе алгоритм обнаружения дефектов по паре изображений низкого увеличения может быть разделен на два последовательных, но совершенно независимых этапа. Первый этап – автоматическое совмещение пары изображений и второй – нахождение области дефекта, как области различия уже совмещенных эталонного и дефектного изображений.

НОВОСТИ И ОБЪЯВЛЕНИЯ
Главный научный сотрудник Лаборатории квантовой физики и информации ИППИ РАН, директор Центра перспе...
Семинар лаб.9: 30 марта (четверг!) в 14.00 Алексей Викторович Чернавский, Вера Леонидовна Талис ...
Старший научный сотрудник Лаборатории квантовой физики и информации №5 ИППИ РАН, доцент Центра персп...
На портале РБК опубликовано мнение заместителя директора ИППИ РАН по научной работе Михаила Гельфанд...
Заместитель директора, руководитель учебно-научного центра "Биоинформатика" ИППИ РАН Михаил Гельфанд...
Семинар лаборатории № 8: 23 марта в 14:30 в ИПЭЭ РАН. Л.К. Римская-Корсакова: Прямая и обратная маск...
Семинар по теории кодирования: 21.03.2017 (вторник),19:00, ауд.307 ИППИ. Илья Воробьев (МГУ) "Неадап...
Семинар "Структурные модели и глубинное обучение": 21.03.2017 (вторник), ауд. 615 ИППИ,18:30. Алекса...
Все новости   
 

 

  © Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Институт проблем передачи информации им. А.А. Харкевича Российской академии наук, 2017
Об институте  |  Контакты  |  Старая версия сайта