Войти
Логин:
Пароль:
Забыли пароль?
научная деятельность
структура институтаобразовательные проектыпериодические изданиясотрудники институтапресс-центрконтакты
русский | english
Лаборатория № 2 >> Основные направления исследований >> Обнаружение дефектов электронных микросх...

Обнаружение дефектов электронных микросхем на изображениях

Данная задача состоит в разработке алгоритмов формирования маски дефектных участков электронных микросхем путем анализа изображений, получаемых микроскопом высокого разрешения (электронным микроскопом). При этом дефектом называется та область изображения, где наблюдается отличие анализируемого (дефектного) изображения от эталонного (бездефектного).

В результаты проведенных исследований был разработан алгоритм, основанный на прямом поиске различий эталонного и дефектного изображений. Очевидно, что при таком подходе алгоритм обнаружения дефектов по паре изображений низкого увеличения может быть разделен на два последовательных, но совершенно независимых этапа. Первый этап – автоматическое совмещение пары изображений и второй – нахождение области дефекта, как области различия уже совмещенных эталонного и дефектного изображений.

НОВОСТИ И ОБЪЯВЛЕНИЯ
22 июня 2017 года на 87 году жизни после продолжительной болезни скончался главный научный сотрудник...
На этой неделе совместными усилиями учёных из ИППИ РАН и научных журналистов портала “Чердак” в свет...
С понедельника 19 июня направление связей с общественностью в ИППИ РАН возглавил научный журналист Д...
Семинар, посвященный 80-летию со дня рождения В.И. Арнольда: 21.06.2017 (среда), факультет математик...
Семинар Добрушинской математической лаборатории: 20.06.2017 (вторник), 16:00, ауд. 307 ИППИ РАН. Анд...
12 июня 2017 года на 92 году жизни скончался старейший сотрудник ИППИ, ветеран ВОВ Владимир Нейман....
В Сколтее и НИУ ВШЭ состоялись презентации новой, только что вышедшей в свет книги «Математические п...
Общемосковский междисциплинарный семинар <<Глобус>> 15 июня в 15.40 в НМУ, конференц-зал. Юрий Зархи...
Все новости   
 

 

  © Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Институт проблем передачи информации им. А.А. Харкевича Российской академии наук, 2017
Об институте  |  Контакты  |  Старая версия сайта