Войти
Логин:
Пароль:
Забыли пароль?
научная деятельность
структура институтаобразовательные проектыпериодические изданиясотрудники институтапресс-центрконтакты
русский | english
Лаборатория № 2 >> Основные направления исследований >> Обнаружение дефектов электронных микросх...

Обнаружение дефектов электронных микросхем на изображениях

Данная задача состоит в разработке алгоритмов формирования маски дефектных участков электронных микросхем путем анализа изображений, получаемых микроскопом высокого разрешения (электронным микроскопом). При этом дефектом называется та область изображения, где наблюдается отличие анализируемого (дефектного) изображения от эталонного (бездефектного).

В результаты проведенных исследований был разработан алгоритм, основанный на прямом поиске различий эталонного и дефектного изображений. Очевидно, что при таком подходе алгоритм обнаружения дефектов по паре изображений низкого увеличения может быть разделен на два последовательных, но совершенно независимых этапа. Первый этап – автоматическое совмещение пары изображений и второй – нахождение области дефекта, как области различия уже совмещенных эталонного и дефектного изображений.

НОВОСТИ И ОБЪЯВЛЕНИЯ
Семинар лаборатории № 8: 14 декабря в 14:30 в ИПЭЭ РАН. В.Д. Барон. Электрические органы и электроре...
Семинар Добрушинской математической лаборатории 12 декабря, вторник, 16:00, ауд. 307. Андрей Ко...
В пятницу 8 декабря 2017 г в 17:00 в ауд. 615 ИППИ РАН состоится совместный семинар лаб. №2, лаб. №1...
Общемосковский междисциплинарный семинар <<Глобус>> 7 декабря в 15.40 в НМУ, конференц-зал. Аскольд ...
30 ноября 2017 г. стали известны результаты шестого конкурса на получение «мегагрантов» — грантов Пр...
Семинар Добрушинской математической лаборатории 5 декабря, вторник, 16:00, ауд. 307. Александр Поля...
12 декабря 2017 (вторник) состоится совместный семинар лабораторий № 2 и № 11. С докладом выступит А...
Семинар лаб.9, 5 декабря в 11: 00 Е.О. Блинов "Возбудимость мотонейронов шейного отдела спинного моз...
Все новости   
 

 

  © Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Институт проблем передачи информации им. А.А. Харкевича Российской академии наук, 2017
Об институте  |  Контакты  |  Старая версия сайта